Abderrahmane BOUBEZOUL

Ancien Membre de l'équipe COSI

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[1] A. Boubezoul, S. Paris, M. Ouladsine, “Application of the cross entropy method to the GLVQ algorithm”, in: Journal on Pattern Recognition, March 2008.[bib]

[2] A. Boubezoul, Thèse : “Système d'aide au diagnostic par apprentissage : application aux systèmes microélectroniques”, Université Paul Cézanne (Aix Marseille III), Mars 2008. Directeurs : M. Ouladsine et S. Paris.[bib]

[3] A. Boubezoul, S. Paris, M. Ouladsine, “Improving the GRLVQ Algorithm by the Cross Entropy Method”, in: Artificial Neural Networks - ICANN 2007, Joaquim Marques de Sá and Luís A. Alexandre and W\lodzis\law Duch and Danilo Mandi, LNCS, vol. 4668, pp. 199-208, Springer, Heidelberg, 2007. ISBN 978-3-540-74689-8.[bib]

[4] A. Boubezoul, S. Paris, M. Ouladsine, “Improving the H2MLVQ algorithm by the Cross Entropy Method”, in: 6th Workshop on Self-Organizing Maps (WSOM 07), Bielefeld (Germany), 2007. ISBN 978-3-540-74689-8.[bib]

[5] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, “Defective Wafer Detection Using Machine Learning”, in: European Control Conference 2007, Kos, Greece, juillet 2007. à paraître.[bib]

[6] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, H. Noura, “Defective Wafer Detection Using Neural Network Approach and Multivariate Statistical Approach”, in: International Modeling and Simulation Multiconference 2007 (IMSM 07), Buenos Aires, Argentina, February 2007.[bib]

[7] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, “Système d'Aide à la décision pour la détection de wafers défectueux”, in: Actes de l'atelier Fouille de données complexes dans un processus d'extraction des connaissances, EGC'2007, Namur, Belgique, Janvier 2007.[bib]

[8] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, “Defective Wafer Detection Using Multiple Classifiers”, in: ISMI, Texas, USA, 2006.[bib]

[9] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, “Classification de Wafers par Réseaux de neurones à partir de Tests paramétriques”, in: CIFA, Bordeaux, France, 2006.[bib]

[10] B. Ananou, A. Boubezoul, M. Ouladsine, H. Noura, F. Gasnier, J. Pinaton, “Aid decision and system based on statistical multivariate approach: applied to wafer manufacturing”, in: AEC APC, Advanced Equipment Control-Advanced Process Control, Symposium XVIII, Westminste, Colorado, September 30 – October 5 2006.[bib]

[11] K. N. M’sirdi, A. Boubezoul, A. Rabhi, L. Fridman, “ESTIMATION OF PERFORMANCE OF HEAVY VEHICLES BY SLIDING MODES OBSERVERS”, in: ICINCO 2006, 3rd International Conference On Informatics in Control, Automation and Robotics, vol. ICINCO 2006, Setubal Portugal,, August 2006 2006.[bib]

[12] K. N. M’sirdi, A. Boubezoul, A. Rabhi, L. Fridman, “Sliding Mode Observers for estimation of performance of heavy vehicles”, in: MED06, MED06, Ancona Italy, June 28-30 2006. Invited paper.[bib]

[13] K. N. M’sirdi, A. Boubezoul, A. Rabhi, L. Fridman, “Sliding Modes Observers for Estimation of Performance of Heavy Vehicles”, in: 14th Mediterranean Conference on Control and Automation, MED 2006, vol. June 28-30, n° Invited paper, Ancona Italy, juin 2006.[bib]

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