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Abderrahmane BOUBEZOUL
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Membre de l'équipe COSI |
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| Fonction : |
Doctorant |
| UFR : |
Université Aix-Marseille (U3) |
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| Tél. : |
04 91 05 60 28 |
| E-mail : |
abderrahmane boubezoul lsisorg |
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| Adresse : |
LSIS - UMR CNRS 6168
Domaine Universitaire de Saint-Jérôme
Avenue Escadrille Normandie-Niemen
13397 MARSEILLE CEDEX 20 |
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THÈSE
Sujet de thèse :
Analyse de données dans l'objectif d'améliorer les prises de décision |
Directeur(s) de thèse :
Hassan Noura et Mustapha Ouladsine |
Date de début de thèse :
octobre 2004 |
Financement(s) :
Bourse EGIDE |
Résumé :
Cette étude concerne le diagnostic de défauts affectant la production des circuits électroniques dans la société STMicroselectronics. La surveillance de la qualité de ces cartes nécessite l’évaluation de nombreux paramètres mesurés sur la ligne de production. Il s’agit d’analyser ces mesures et de choisir les plus pertinentes pour caractériser la qualité de la carte. L’objectif est d’analyser des bases de données contenant des informations sur les tests paramétriques appliqués aux cartes électroniques afin de déterminer des classes permettant d’isoler les circuits défaillants.
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PUBLICATIONS
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[1] A. Boubezoul, S. Paris, M. Ouladsine, “Application of the cross entropy method to the GLVQ algorithm”, in: Journal on Pattern Recognition, March 2008.[bib] |
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[2] A. Boubezoul, S. Paris, M. Ouladsine, “Improving the GRLVQ Algorithm by the Cross Entropy Method”, in: Artificial Neural Networks - ICANN 2007, Joaquim Marques de Sá and Luís A. Alexandre and W\lodzis\law Duch and Danilo Mandi, LNCS, vol. 4668, pp. 199-208, Springer, Heidelberg, 2007. ISBN 978-3-540-74689-8.[bib] |
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[3] A. Boubezoul, S. Paris, M. Ouladsine, “Improving the H2MLVQ algorithm by the Cross Entropy Method”, in: 6th Workshop on Self-Organizing Maps (WSOM 07), Bielefeld (Germany), 2007. ISBN 978-3-540-74689-8.[bib] |
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[4] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, “Defective Wafer Detection Using Machine Learning”, in: European Control Conference 2007, Kos, Greece, juillet 2007. à paraître.[bib] |
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[5] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, H. Noura, “Defective Wafer Detection Using Neural Network Approach and Multivariate Statistical Approach”, in: International Modeling and Simulation Multiconference 2007 (IMSM 07), Buenos Aires, Argentina, February 2007.[bib] |
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[6] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, “Système d'Aide à la décision pour la détection de wafers défectueux”, in: Actes de l'atelier Fouille de données complexes dans un processus d'extraction des connaissances, EGC'2007, Namur, Belgique, Janvier 2007.[bib] |
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[7] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, “Defective Wafer Detection Using Multiple Classifiers”, in: ISMI, Texas, USA, 2006.[bib] |
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[8] A. Boubezoul, B. Ananou, M. Ouladsine, S. Paris, “Classification de Wafers par Réseaux de neurones à partir de Tests paramétriques”, in: CIFA, Bordeaux, France, 2006.[bib] |
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[9] B. Ananou, A. Boubezoul, M. Ouladsine, H. Noura, F. Gasnier, J. Pinaton, “Aid decision and system based on statistical multivariate approach: applied to wafer manufacturing”, in: AEC APC, Advanced Equipment Control-Advanced Process Control, Symposium XVIII, Westminste, Colorado, September 30 – October 5 2006.[bib] |
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[10] K. N. M’sirdi, A. Boubezoul, A. Rabhi, L. Fridman, “ESTIMATION OF PERFORMANCE OF HEAVY VEHICLES BY SLIDING MODES OBSERVERS”, in: ICINCO 2006, 3rd International Conference On Informatics in Control, Automation and Robotics, vol. ICINCO 2006, Setubal Portugal,, August 2006 2006.[bib] |
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[11] K. N. M’sirdi, A. Boubezoul, A. Rabhi, L. Fridman, “Sliding Mode Observers for estimation of performance of heavy vehicles”, in: MED06, MED06, Ancona Italy, June 28-30 2006. Invited paper.[bib] |
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[12] K. N. M’sirdi, A. Boubezoul, A. Rabhi, L. Fridman, “Sliding Modes Observers for Estimation of Performance of Heavy Vehicles”, in: 14th Mediterranean Conference on Control and Automation, MED 2006, vol. June 28-30, n° Invited paper, Ancona Italy, juin 2006. à paraître.[bib] |
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